Dr. Birka Lalkens vom Institut für Halbleitertechnik bei der optischen Mikroskopie unterhalb des Beugungslimits mit Hilfe eines STED (STimulated Emission Depletion) Mikroskops. Bildnachweis: Markus Hörster/TU Braunschweig

Vorheriges Bild Nächstes Bild

Bitte beachten Sie das Copyright dieses Bildes.