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Metrologie komplexer Nanosysteme – Von Mikrochips bis zu Mikroben 16.01.2017 | 18:30 Uhr - 20:00 Uhr

Die Nanometrologie untersucht die Messung der Eigenschaften von sehr kleinen Objekten mit Abmessungen unter 100 nm. Hierbei geht es zunächst um die geometrische Größe der Partikel und Nanokristalle. Sehr interessant sind aber auch – so die These von Prof. Dr. Meinhard Schilling – die elektrischen, magnetischen und optischen und chemischen Eigenschaften so kleiner Teilchen. Die Metrologie untersucht, wie diese Eigenschaften sehr genau bestimmt werden können. Dies ist wichtig, da die Nanoteilchen beispielsweise in der Biologie und Medizin als bildgebende Kontrastmittel und für die Labormedizin eingesetzt werden sollen, um die medizinische Diagnostik exakter werden zu lassen.

Prof. Dr. Meinhard Schilling studierte und promovierte an der Universität Hamburg, er wurde dort ebenfalls in Experimentalphysik habilitiert. Seit 2001 ist er Professor im Fachbereich Elektrotechnik (C4) und Leiter des Instituts für Elektrische Messtechnik und Grundlagen der Elektrotechnik an der Technische Universität Braunschweig. Meinhard Schilling übt seit 2007 die Funktion des Sprechers der International Graduate School of Metrology und seit 2014 des DFG Graduiertenkollegs 1952 „Metrologie für komplexe Nanosysteme“ aus. Desweiteren ist er Mitglied des Vorstands des Forschungszentrums „Laboratory of Emerging Nanometrology“ (LENA) der TU Braunschweig.

Referent/in

Prof. Dr. Meinhard Schilling, Institut für Elektrische Messtechnik und Grundlagen der Elektrotechnik, TU Braunschweig

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